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CI-150 光斑式冠层结构分析仪（已停止销售）
| CI-150采用光斑扫描记数的方法，测定植物冠层孔隙率，从而计算植物群体内太阳直接辐射透过率。据此采用植物群体叶面积指数与太阳直接辐射透过率相关原理建立起来的半理论半经验公式计算植物群体的冠层结构参数。该光斑电子扫描技术原创于上个世纪80年代中国。美国CID公司于80年代末采用该技术进行了改进并完成了商品生产。 |
使用缺点：
• 该类光斑仪在野外实际使用时，需繁重、重复的大量测量工作
• 受到天气条件、时间限制等因素限制
• 由于测量的是太阳直射光透过率，所以在一天中要取不同时间（太阳高度不同）观测，才能取得不同太阳高度角时的光
斑透过率
• 手持式，方便一次测量要在水平面上平移进行十次读数，以取得50或0.8m2上的孔隙率 |
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